Datos del producto:
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Nombre de producto: | Sustratos de zafiro/GaN dopado con silicio de 4 pulgadas | Grueso/grueso STD: | 4,5 ± los 0.5μm/< el 3% |
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Orientación: | Plano C (0001) fuera de ángulo hacia el eje A 0,2 ± 0,1 ° | Dimensiones: | 100 ± 0.2m m |
Plano de la orientación de GaN: | (1-100) 0 ° del ± 0,2, 30 ±1mm | Tipo de la conducción: | N-TYPE |
Resaltar: | Oferta epitaxial de zafiro GaN,Se trata de una muestra de las características de las células de la célula.,4 pulgadas de galleta epitaxial |
N-tipo GaN Si-dopado de 4 pulgadas en la oblea SSP resistivity<0.05 Ω cm LED, laser, oblea epitaxial del zafiro del PIN
Para GaN ligeramente Si-dopado (el 1016 del del × del del [Si] = del 2,1 cm −3), la movilidad de electrón de la temperatura ambiente (RT) eran tan altos como los cm2s 1008 de s −1 del V −1 del , que fue limitado dominante por la dispersión óptica polar del fonón. Por otra parte, encontramos que GaN pesadamente Si-dopado preparado usando PSD exhibió una movilidad del RT de hasta 110 cm2s de s −1 del V −1 del en una concentración del electrón del 1020 del del × de 2 cm −3, que indicó que la resistencia de esta película era casi tan pequeña como las de óxidos conductores transparentes típicos tales como óxido de la lata del indio.
En temperaturas más bajas, la movilidad de electrón aumentó a los cm2s 1920 de s −1 del V −1 del en 136 el K, y la dependencia de la temperatura fue explicada bien por los modelos convencionales de la dispersión. Estos resultados indican que GaN Si-dopado preparado usando PSD está prometiendo no sólo para la fabricación de los dispositivos de poder GaN-basados pero también para el uso como materiales transparentes epitaxiales del electrodo para el nitruro basó los dispositivos ópticos.
4-inch Si-dopó GaN/Sapphire Substrates | ||
Artículo | GaN-T-C-N-C100 |
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Dimensiones | ± 100 0,2 milímetros | |
Grueso/grueso STD | 4,5 μm del ± 0,5/ < 3=""> | |
Orientación | Avión de C (0001) del ángulo hacia Uno-AXIS 0,2 ° del ± 0,1 | |
Plano de la orientación de GaN | (1-100) 0 ° del ± 0,2, ± 30 1 milímetro | |
Tipo de la conducción | N-tipo | |
Resistencia (300K) | < 0=""> | |
Concentración de portador | > 1 x 1018 cm-3 (≈ que dopa la concentración) | |
Movilidad | > 200 cm2/V·s | |
*XRD FWHMs | (0002) < 300="" arcsec=""> | |
Estructura | ~ uGaN/~ del nGaN/~ los 2.5μm de los 2μm 25 zafiro del μm del ± 25 del uGaN buffer/650 del nanómetro | |
Orientación del zafiro | Avión de C (0001) del ángulo hacia M-AXIS 0,2 ° del ± 0,1 | |
Plano de la orientación del zafiro | (11-20) 0 ° del ± 0,2, ± 30 1 milímetro | |
Sapphire Polish | Solo lado pulido (SSP)/lado doble pulido (DSP) | |
Área usable | > el 90% (borde y exclusión macra de los defectos) | |
Paquete |
Empaquetado en un recinto limpio en envases: sola caja de la oblea (< 3="" PCS=""> |
Sobre nosotros
Nos especializamos en el proceso de una variedad de materiales en las obleas, los substratos y parts.components de cristal óptico modificado para requisitos particulares ampliamente utilizados en electrónica, la óptica, la electrónica opta y muchos otros campos. También hemos estado trabajando de cerca con muchos nacionales y las universidades, las instituciones de investigación y las compañías de ultramar, proporcionan productos modificados para requisitos particulares y los servicios para sus proyectos del R&D. Es nuestra visión a mantener una buena relación de la cooperación con nuestros todos los clientes por nuestras buenas reputaciones.
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